Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-2

ПРЕДНАЗНАЧЕН ДЛЯ
Бесконтактного измерения формы поверхности объектов в микро- и нанодиапазонах высот, высотных и шаговых параметров шероховатости, толщины тонких плёнок, распределения показателя преломления и пр. Микроскоп позволяет исследовать отражающие объекты, состоящие из различных по своим электрическим свойствам материалов (диэлектрик, проводник и пр.). Также он может использоваться в биологии для исследования микробиологических объектов без окрашивания, размещённых на зеркальной поверхности.

ОТРАСЛЕВОЕ ПРИМЕНЕНИЕ
Биологические исследования, нанотехнологии.

Поле зрения, мкм 130 × 175
Диапазон измерения высот, мкм 0,0001 ÷ 3,0000
Разрешающая способность
• в плоскости XY, мкм 0,3
• по оси Z, Å 0,8
Диапазон измерения показателя преломления 1 ÷ 2
Абсолютная погрешность измерения показателя преломления 1•10-3
Источники излучения светодиод
Длина волны, мкм 0,532
Алгоритм реконструкции метод фазовых шагов
Размерность изображения, пиксель 1392 х 1040
Время измерения и обработки, сек 30
Число обрабатываемых интерференционных картин 9