Microscopio de interferencia automatizado МИА -2

DESTINADO PARA la medición sin contacto de la forma de la superficie de objetos en los rangos micro y nano de alturas, altitud y parámetros de paso de rugosidad, espesor de películas delgadas, distribución del índice de refracción, etc.

EL MICROSCOPIO PERMITE estudiar objetos reflectantes constituidos por materiales de diferentes propiedades eléctricas (dieléctrico, conductor, etc.).

PUEDE UTILIZARSE en biología para estudiar objetos microbiológicos sin teñir, colocados sobre una superficie de espejo.

APLICACIÓN INDUSTRIAL

Investigación biológica, nanotecnología

Campo de visión, μm 130 × 175
Rango de medición de altura, μm 0,0001 ÷ 3,0000
Resolución
• en el plano XY, μm 0,3
• a lo largo del eje Z, Å 0,8
Rango de medición del índice de refracción 1 ÷ 2
Error absoluto de medición del índice de refracción 1•10 -3
Fuentes de irradiacion LED
Longitud de onda, μm 0,532
Algoritmo de reconstrucción método de pasos fásicos
Dimensión de la imagen, píxel 1392 х 1040
Tiempo de medición y procesamiento, seg. 30
Número de patrones de interferencia procesados 9